要求：
1、样品必须是固体，且做到无毒、无放射性。
2、样品可以是块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状，无论是什么样的样品都不能是有机挥发物和含有水分，含有水分的样品放在镜筒内能使图像模糊，甚至根本不能成像，也可造成镜筒污染，因此，应先烘干样品中的水分。
3、无论是块状样品,还是粉末颗粒状样品，其化学物理性质要稳定，在高真空中的电子束照射下，都要能保持成分稳定和形态不变。
4、表面受到污染的样品，在不破坏样品表面结构的前提下，进行适当清洗、烘干。
扫描电镜的样品制备有哪些基本要求
这个要看你制的是哪类试样，金属的还是非金属的，要求视不同的，金属的要求在砂纸上2000号磨完之后轻微腐蚀，在显微镜下能清楚观察到样品表面形貌，样品表面必须干净。非金属的我就不太知道了。
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑
简述扫描电子显微镜的构造和工作原理。对试样有哪些要求?如何制备试样
简述扫描电子显微镜的构造和工作原理，对试样有要求和制备试样：
扫描电镜基本结构：电子光学系统+真空系统+样品装载和移动系统+信号探测器系统+ 电气控制系统+ 计算机系统。电子束作为点光源帧扫描样品，并接收逐点生成的信号作为视频信号。视频信号的显示器尺寸固定，当调节电子束扫描区域大小的时候，即实现视频图像放大倍数的调节。
能谱仪基本结构：探测器 + 电器控制系统 + 计算机系统 。入射电子束电离样品，伴随电子能级跃迁发射特征x射线，特征能量X射线轰击探测器半导体探测晶体，将能量转化为电信号，通过测量电信号大小可计算出特征X射线能量，从而知道样品中存在哪些元素。
概述
某些含水量低且不易变形的生物材料，可以不经固定和干燥而在较低加速电压下直接观察，如动物毛发、昆虫、植物种子、花粉等，但图象质量差，而且观察和拍摄照片时须尽可能迅速。对大多数的生物材料，则应首先采用化学或物理方法固定、脱水和干燥，然后喷镀碳与金属以提高材料的导电性和二次电子产额。
用扫描电镜对样品或试件进行观察时，样品需要做哪些处理
扫描电镜对样品表面的平整程度要求不高，如果不导电的话需要喷金或者喷碳使其导电即可。
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope, SEM)是一种电子显微镜，它通过用聚焦电子束扫描表面来产生样品的图像。电子与样品中的原子相互作用，产生包含样品表面形貌和成分信息的各种信号。电子束的扫描路径形如光栅，将电子束的位置与检测信号的强度相结合即可输出图像
扫描电子显微镜
扫描电子显微镜，简称扫描电镜，英文名为Scanning Electron Microscope，缩写为SEM，是利用高能量的电子束在固体样品表面扫描，激发出二次电子、背散射电子、X射线等物理信号，从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子光学仪器。
扫描电镜，按其功能划分，由电子光学系统、信号检测和放大系统、扫描系统、图像显示和记录系统、真空系统以及电源系统等六个部分组成（图5-1）。由电子枪发出，经电磁透镜会聚的电子束，由扫描线圈控制在固体样品表面作光栅式扫描，入射至样品中数微米深的范围内。这些高能电子与样品中原子相互作用后，使样品内产生二次电子、背散射电子、X射线等物理信号。
在入射电子的作用下从固体样品中射出的，能量小于50e V的电子都称为二次电子（Secondary Electron，常以缩写SE表示）。大部分二次电子的能量在3～5e V之间。背散射电子（Backscattered Electron，常以缩写BE表示）是被固体样品原子反射回来的入射电子，所以有时又称为反射电子（reflected electron，请勿称作背反射电子），其能量与入射电子的能量相等或接近相等。
图5-1 扫描电子显微镜的结构（未显示电源系统）
扫描电镜中的成像与闭路电视的成像相似。样品中产生的二次电子、背散射电子等物理信号可分别由检测器逐点逐行采集，并按顺序和成比例地将物理信号进行处理后输送到阴极射线管的栅极调制其亮度，显示出样品的图像。扫描电镜镜筒中的电子束在样品表面的扫描与阴极射线管中电子束在成像平面上的扫描是同步的。因此，阴极射线管上的图像与样品实物是逐点逐行一一对应的。由于样品表面各部位的形貌、成分和结构等的差异，被激发的二次电子、背散射电子数量有所不同，从而在阴极射线管上形成反映样品表面特征的明暗不同的图像。因此，扫描电镜的图像是一种衬度图像，并不是彩色图像。早期的扫描电镜图像是模拟图像，由照相底片记录。近年来图像均已数字化，可由计算机储存和显示。
由于二次电子能量较低，在距离表面10nm以上的样品内部产生的二次电子几乎全被邻近的原子吸收而无法逸出样品被检测器检测到。因此，二次电子像所反映的信息完全是样品表面的特征，是扫描电镜中使用最多的图像（图5-2）。
扫描电镜图像的特点是：① 放大倍数范围大，其有效放大倍数可从数十倍至十万倍，基本上概括了放大镜、光学显微镜至透射电镜的放大倍数范围。②分辨率高，景深大，立体感强。其二次电子图像的分辨率已达3nm，比光学显微镜约高5个数量级。在同一放大倍数下扫描电镜图像的景深比光学显微镜的景深大10～100倍。
图5-2 草莓状黄铁矿的扫描电子图像
扫描电镜对样品的基本要求是：①样品必须是干燥、清洁的固体，在高能电子束的轰击下不变形，不变质，并能经受住真空的压力。②样品必须导电。不导电的样品可在表面喷镀一层导电膜。近几年有些不导电的样品在数百伏的低加速电压下也能进行观察。因此，光片、没有盖玻璃的薄片以及断面等都能在扫描电镜中进行观察。对样品的大小也没有严格的要求，观察面积约1cm2，样品高度小于1cm较为适中。
近年来绝大多数扫描电镜都配备X射线能谱仪，有时还可配备电子背散射衍射部件，在观察图像的同时还可在原地进行微区的成分和结构分析。详情请见本章第三节和第四节的相关部分。
为什么透射电镜和扫描电镜对样品厚度与大小的要求有如此大的差异
两者成像原理不一样，透射电镜成像以透射电子成像，要求样品很薄，以便电子束能够透过样品，扫描电镜常用二次电子和背散射电子成像，这两种电子都属于反射电子信号，二次电子是漫散射，背散射电子是弹性散射，两种信号均反映样品的表面信息，其中背散射电子还可以反映成分衬度。因为扫描电镜只反映样品表面信息，所以对样品厚度没有特别要求。
在光学显微镜下观察的物体必须什么
显微镜大致分：光学显微镜和透射电镜、扫描显镜、扫描遂道显微镜
具体区别如下：
1、是否需要染色：光学显微镜和扫描遂道显微镜可以对处于生理状态下的样品进行直接观察，光学显微镜也可以将样品进行染色后观察。
2、是否要求真空：电子显微镜的工作环境要求真空，因此样品必须经过干燥、固定，无法观察处于生理状态下的样品。其他不用。
3、样品厚度：光学显微镜和透射电镜对样品的厚度有要求，制备的样品应允许光源透过，不能太厚。透射电镜的观察样品一般需要进行超薄切片制样。扫描电镜和扫描遂道显微镜对样品的厚度没有特别要求。
此题考查的知识点是临时装片的制作，显微镜是利用光学原理成像的，光线必须通过观察材料反射到物镜、目镜、眼内才能形成物像，因此观察材料必须是薄而透明的，如观察材料不透明就不能形成清晰的物像。
核糖体无膜结构，主要由蛋白质（40%）和RNA（60%）构成。核糖体按沉降系数分为两类，一类（70S）存在于细菌等原核生物中，另一类（80S）存在于真核细胞的细胞质中。他们有的漂浮在细胞内，有的结集在一起。
染色质（chromatin）最早是1879年Flemming提出的用以描述核中染色后强烈着色的物质。现在认为染色质是细胞间期细胞核内能被碱性染料染色的物质。染色质的基本化学成分为脱氧核糖核酸核蛋白，它是由DNA、组蛋白、非组蛋白和少量RNA组成的复合物。
透射电镜和扫描电镜的特点及应用（越全越好）
1、透射电子显微镜电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。
透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50～100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。
常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进行观察。
2、扫描电镜的特点：有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；试样制备简单。
生物：种子、花粉、细菌；
医学：血球、病毒；
动物：大肠、绒毛、细胞、纤维；
材料：陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂；
化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌）、机械、电机及导电性样品，如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察）电子材料等。
扩展资料
透射电镜的总体工作原理是：由电子枪发射出来的电子束，在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜，通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑，照射在样品室内的样品上；透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信息，样品内致密处透过的电子量少，稀疏处透过的电子量多；
经过物镜的会聚调焦和初级放大后，电子束进入下级的中间透镜和第1、第2投影镜进行综合放大成像，最终被放大了的电子影像投射在观察室内的荧光屏板上；荧光屏将电子影像转化为可见光影像以供使用者观察。
扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
参考资料来源：百度百科-扫描电子显微镜
参考资料来源：百度百科-透射电子显微镜
请教专业人士：关于扫描电镜的用法和样品制备
1、可以看到很小的东西，但它是不断放大的，因此倍数越大看到只是小东西表面很小的部分而不是整个表面。当然可以减小倍数看到整个小东西的表面，就像你拿个放大镜看一个比放大镜大的东西，倍数增大的时候相当于把放大镜移近物体。
2、扫描电镜靠电子作用于物体的，一般真空有利于电子运动。样品没有特殊要求，一般最好能顺利抽真空，也就是样品内的微孔隙较多就可以抽真空的，比如黏土类样品孔隙少，很难抽真空会导致电子运动受阻图像模糊。一般的金属和砂石类样品都可以满足要求。在样品表面镀金、银、炭等都有助于电子的相互作用。
近来在用，希望有帮助。
sem粉末测试需要多少g
0.1克左右。
首先SEM扫描电镜测试对样品的要求并不高，粉末、液体、固体、薄膜、块体均可测试，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm左右。
粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试要提前与试验室工作人员说明。
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